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产品名称:镀金X射线无损测厚仪

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产品特点:韩国先锋XRF-2000镀层测厚仪
测量镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...可测单层,双层,多层,合金镀层,
镀金X射线无损测厚仪

镀金X射线无损测厚仪的详细资料:

镀金X射线无损测厚仪

韩国先锋 XRF-2000

X太阳2娱乐下载

电镀膜厚仪

 

产品先容

荧光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分,可用于材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。  

 

XRF-2000 系列
 

1. H型: 密闭式样品室,方便测量的样品较大,高度约100mm以下。  
2. L型:  密闭式样品室,方便测量 样品较小,高度约30mm以下。  

3. PCB型:  开放式样品室,方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下

 

应用 : 

检测电子电镀,PCB板,五金电镀层厚度

测量范围根据不同镀层0.04-35um

精度控制
 

表层:±5%以内
第二层:±8%以内
第三层:±12%以内


测量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀钯等,其可侦测元素的范围: Ti(22)~U(92 )   
 

特色 :
  

非破坏,非接触式检测分析,快速精确。 
可测量高达六层的镀层 (五层厚度   底材 ) 并可同时分析多种元素。 
相容微软MicroSoft作业系统之测量软体,操作方便,直接可用Office软体编辑报告  
  全系列*设计样品与光径自动对焦系统。 
  标准配备溶液分析软体 ,可以分析电镀液成份与含量。 
 准直器口径多种选择,可根据样品大小来选择準值器的口径。  
  
移动方式:全系列全自动载台电动控制,减少人为视差   
  *2D3D或任意位置表面量测分析。 
  雷射对焦,配合CCD摄取影像使用point and shot功能。 

标準ROI软体 搭配内建多种专业报告格式,亦可将数据、图形、统计等作成完整报告  

光学20倍影像放大功能,更能精确对位。  

单位选择: mils  uin  mm  um  
 

韩国MICRO PIONEER

XRF-2000镀层测厚仪

优于美制仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的*优势。  

  镀金X射线无损测厚仪
 

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