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X光镀层测厚仪是采用磁性和涡流两种方法进行测厚的
点击次数:360 发布时间:2021-10-23
  X光镀层测厚仪可无损地测量磁性金属基体上非磁性涂层的厚度,以及非磁性金属基体上非导电覆层的厚度。本仪器具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量的检测仪器。仪器广泛运用于工业生产测厚中,包含钢板厚度、卷皮带厚度等,当然在实验室精细测量中也有运用,包含航空航天、科研开发等范畴。
 
  X光镀层测厚仪作业原理:
  测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。
  1、磁性法:当测量头与覆盖层接触时,测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过测量其变化可导出覆盖层的厚度;
  2、涡流法:利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场,当测量头与覆盖层接触时,金属基体上产生电涡流,并对测量头中的线圈产生反馈作用,通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
 
  产品优势:
  1、对于压敏胶,涂布/纸加工,烟草薄片,水性涂层,热熔胶等材料,本产品拥有非接触测量的优势;
  2、在保证测量速度的基础上,本产品能够将被测物微小的厚度变化完整地呈现出来;
  3、本产品能拥有*的重复性,预计GRR能够达到5%左右。
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联系人:樊先生
手机:
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